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质量保障

shenyuan semiconductors co.,LTD.
致力于成为行业领先的半导体功率器件方案提供商

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主要的可靠性试验项目和常用试验条件

试验项目 试验条件 试验时间/次数
恒温恒湿试验THT Ta=85±2℃,RH=85±5% 168hrs/500hrs/1000hrs
温度循环试验TCT

-55℃ 30℃ 150℃ 30℃ -55℃  15min,2min,15min,2min,15min

100cy / 500cy / 1000cy
高温反偏 / 栅偏试验 HTRB / HTGB Ta=150℃ VCB=0.8*BVCBO VDS=0.8*BVDSS 168hrs / 500hrs / 1000hrs
高温存储试验HTST Ta=150℃ 168hrs / 500hrs / 1000hrs
高压蒸煮试验 PCT 121℃,100%RH,202650pa 96hrs / 168hrs
可焊性试验 ST 245± 5℃ 5± 0.5sec  
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